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怎樣讀懂MOS管的參數,參數詳解

信息來源:本站 日期:2017-06-09 

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MOS管主要參數如下:
1.開啓電壓VT-開啓電壓(又稱阈值電壓):使得源極S和漏極D之間開端構成導電溝道所需的柵極電壓;-規範的N溝道MOS管,VT約爲3~6V;-經過工藝上的改良,能夠使MOS管的VT值降到2~3V。


2. 直流输入电阻RGS-即在栅源极之间加的电压与栅极电流之比-这一特性有时以流过栅极的栅流表示-MOS管的RGS能够很容易地超越1010Ω。

3. 栅源击穿电压BVGS-在增加栅源电压过程中,使栅极电流IG由零开端剧增时的VGS,称为栅源击穿电压BVGS。


4. 漏源击穿电压BVDS-在VGS=0(加强型)的条件下 ,在增加漏源电压过程中使ID开端剧增时的VDS称为漏源击穿电压BVDS-ID剧增的缘由有下列两个方面:
(1)漏極左近耗盡層的雪崩擊穿

(2)漏源極間的穿通擊穿-有些MOS管中,其溝道長度較短,不時增加VDS會使漏區的耗盡層不斷擴展到源區,使溝道長度爲零,即産生漏源間的穿通,穿通後,源區中的多數載流子,將直承受耗盡層電場的吸收,抵達漏區,産生大的ID


5. 低频跨导gm-在VDS为某一固定数值的条件下 ,漏极电流的微变量和惹起这个变化的栅源电压微变量之比称为跨导-gm反映了栅源电压对漏极电流的控制才能-是表征MOS管放大才能的一个重要参数-普通在非常之几至几mA/V的范围内


6. 极间电容-三个电极之间都存在着极间电容:栅源电容CGS 、栅漏电容CGD和漏源电容CDS-CGS和CGD约为1~3pF-CDS约在0.1~1pF之间

7. 导通电阻RON-导通电阻RON阐明了VDS对ID的影响 ,是漏极特性某一点切线的斜率的倒数-在饱和区,ID简直不随VDS改动,RON的数值很大,普通在几十千欧到几百千欧之间-由于在数字电路中 ,MOS管导通时经常工作在VDS=0的状态下,所以这时的导通电阻RON可用原点的RON来近似-对普通的MOS管而言,RON的数值在几百欧以内


8. 低频噪声系数NF-噪声是由管子内部载流子运动的不规则性所惹起的-由于它的存在,就使一个放大器即使在没有信号输人时,在输出端也呈现不规则的电压或电流变化-噪声性能的大小通常用噪声系数NF来表示,它的单位为分贝(dB)-这个数值越小,代表管子所产生的噪声越小-低频噪声系数是在低频范围内测出的噪声系数-場效應管的噪声系数约为几个分贝,它比双极性三极管的要小.

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